如原始缺陷長度仍為a₀，但應(yīng)力為σ₀，且σ2＜σ₁，故[K_I]2＜[K_I]₁，在圖2-5-10中[K_I]2在[K_I]₁ ，的下方，如在同一腐蝕環(huán)境下工作，由于應(yīng)力下降，裂紋增長速度da／dt緩慢，a₀達(dá)到a_c的時(shí)間為t₂，t₂t₁。
　　隨著外加應(yīng)力不斷下降，K_I也隨之下降，由a₀增長至a_c所需要的時(shí)間也越長，當(dāng)K_I低于某一臨界值稱為應(yīng)力腐蝕臨界強(qiáng)度因子，用K_Iscc表示。
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圖2—5—10 K_I—t曲線

　　見圖2—5—11，在A₀的應(yīng)力強(qiáng)度應(yīng)子為K_c，此時(shí)對(duì)應(yīng)的斷裂時(shí)間t=0，[K_I]₁與B₁的交點(diǎn)為C₁，[K_I]₂與B₂的交點(diǎn)為C₂，以此類推，連接A₀，C₁、C₂、…得出一條曲線(為圖中的實(shí)線)，該曲線為K_I與斷裂時(shí)間的關(guān)系曲線，K_Iscc為該曲線的漸近線。
　　當(dāng)應(yīng)力腐蝕裂紋前端的K_I＞K_Iscc時(shí)，裂紋就隨時(shí)間而變大，單位時(shí)間內(nèi)裂紋由于應(yīng)力腐蝕而產(chǎn)生的擴(kuò)展量稱為應(yīng)力腐蝕擴(kuò)展速率，用da／dt表示。da／dt與多種因素有關(guān)。下面將作詳細(xì)論述：
　　da／dt與K_Iscc的關(guān)系大致如圖2—5—11所示，由圖看出，da／dt與K_Iscc關(guān)系可分為三個(gè)階段：第Ⅰ階段，K_I剛超過K_Iscc裂紋經(jīng)過一段孕育期，突然加速發(fā)展；第Ⅱ階段，da／dt與K_I的關(guān)系不大，第Ⅲ階段，裂紋長度已接近臨界尺寸，da／dt又明顯依賴于K_I。
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　　國外近若干年來，有些管道研究工作者傾向于用σ_th代替K_Iscc來表示應(yīng)力腐蝕的應(yīng)力界限值，σ_th的定義為：“當(dāng)鋼管中的應(yīng)力高于此應(yīng)力時(shí)，則可能產(chǎn)生SCC，低于此應(yīng)力值時(shí)，則不可能產(chǎn)生SCC，此應(yīng)力界線值稱為應(yīng)力腐蝕拉應(yīng)力的界線值，或稱門檻值，用σ_th表示”th為英文“threshold stress”前面的兩個(gè)字母。
　　所以選用σ_th有以下原因：
　　(1)σ_th值易于由試驗(yàn)中取得；
　　(2)σ_th與內(nèi)壓P直接相關(guān)聯(lián)，似乎更有實(shí)際意義。
　　當(dāng)σ_th求出后，可求出在具體條件下的K_Iscc值。
　　研究表明，以下諸因素影響σ_th值：
　　(一)腐蝕介質(zhì)對(duì)σ_th的影響
　　不同的腐蝕介質(zhì)及不同的介質(zhì)濃度均對(duì)σ_th有影響。圖2—5—12為X52管材在NaNO₃及NH₄NO₃水溶液中不同重量濃度對(duì)σ_th的影響，由圖看出，濃度越高σ_th值越低，不同腐蝕介質(zhì)對(duì)σ_th也有很大影響。
　　(二)管子與土壤間的電化學(xué)電位對(duì)σ_th的影響
　　對(duì)任何已知環(huán)境，應(yīng)力腐蝕只在很窄的一段電化學(xué)電位范圍內(nèi)才能產(chǎn)生，而且在這一范圍內(nèi)的σ_th，也是隨電位而變化的。見圖2—5—13。
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圖2—5—12不同介質(zhì)及濃度對(duì)σ_th的影響

　　圖5—2—13為X52管材在4．8％Ca₂CO₃和7．6％CaHCO₃水溶液中，不同電位對(duì)盯σ_th的影響，由圖看出，在這一特定情況下，電位為-0．70伏時(shí)，σ_th最低，亦即最易產(chǎn)生應(yīng)力腐蝕，向兩側(cè)偏離σ_th迅速提高。