本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了利用X射線衍射線寬化法來測定納米材料晶粒尺寸和微觀應(yīng)變的方法。本標(biāo)準(zhǔn)采用的計(jì)算方法是近似函數(shù)法。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于測定晶粒尺寸一般不大于100nm，微觀應(yīng)變一般不大于0.1%的納米材料。