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本標準描述了多壁碳納米管(MWCNTs)介觀形狀因子的表征方法。所采用的表征技術(shù)包括掃描電子顯微術(shù)(SEM)、透射電子顯微術(shù)(TEM)、黏度法和光散射法等。 本標準還包括用于界定靜態(tài)彎曲持續(xù)長度(SBPL)表征的附加條款,給出了用于評價SBPL的測量方法。