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無損檢測 測量殘余應力的中子衍射方法

標 準 號: GB/T 26140-2010
替代情況:
發(fā)布單位: 中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局、中國國家標準化管理委員會
起草單位: 中國工程物理研究院核物理與化學研究所、上海泰司檢測科技有限公司、上海誠友實業(yè)有限公司等
發(fā)布日期: 2011-01-14
實施日期: 2011-10-01
點 擊 數(shù):
更新日期: 2012年07月10日
內(nèi)容摘要

       本標準規(guī)定了中子衍射測量多晶材料殘余應力的方法。本標準適用于均勻和非均勻材料以及含不同晶相的塊狀樣品檢測。 
       本標準簡要介紹了中子衍射技術(shù)的原理,測量不同種類材料時對應采用的衍射晶面給出了建議,為如何選擇與被測材料晶粒尺寸和應力狀態(tài)有關(guān)的測量方向和待測體積提供了指導。 
       本標準描述了準確定位和校正中子束內(nèi)檢測部位的過程,目的是在測量時能夠準確定義樣品材料的取樣體積。

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