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光學和光子學 光學薄膜 第3部分:環(huán)境適應性

標 準 號: GB/T 26332.3-2015
替代情況:
發(fā)布單位: 中華人民共和國國家質量監(jiān)督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
起草單位: 沈陽儀表科學研究院有限公司、大連化學物理研究所、同濟大學、浙江大學
發(fā)布日期: 2015-12-10
實施日期: 2016-07-01
點 擊 數(shù):
更新日期: 2017年11月29日
內容摘要

GB/T26332規(guī)定了在光學元器件及基片表面鍍制的光學薄膜的應用功能分類、技術指標的標準表述形式、常規(guī)特性及試驗測量方法,但不擬用于規(guī)定鍍制方法。
本部分規(guī)定了光學薄膜的使用條件分類,并確定了為證明光學薄膜滿足技術要求所需要進行的環(huán)境試驗。試驗的術語和范圍已在ISO9022-1中給出。
本部分不適用于眼科光學(眼鏡)的光學薄膜。

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