GB/T26332規(guī)定了在光學元器件及基片表面鍍制的光學薄膜的應(yīng)用功能分類、技術(shù)指標的標準表述形式、常規(guī)特性及試驗測量方法,但不擬用于規(guī)定鍍制方法。
本部 分 規(guī) 定 了 在 GB/T 26332.3 中 提 到 的 光 學 薄 膜 環(huán) 境 適 應(yīng) 性 試 驗 方 法,這 些 方 法 在
GB/T12085—2010標準中沒有描述。這些方法通常與 GB/T26332.3—2015附錄 A 中的測試方法組
成試驗序列共同使用。
本部分不適用于眼科光學(眼鏡)的光學薄膜。