GB/T26332規(guī)定了在光學(xué)元器件及基片表面鍍制的光學(xué)薄膜的應(yīng)用功能分類、技術(shù)指標(biāo)的標(biāo)準(zhǔn)表述形式、常規(guī)特性及試驗(yàn)測量方法,但不擬用于規(guī)定鍍制方法。
本部分規(guī)定了如何表述光學(xué)薄膜的光學(xué)特性以及如何圖示其光譜特性。
本部分不適用于眼科光學(xué)(眼鏡)的光學(xué)薄膜。