為什么直流耐壓試驗(yàn)比工頻耐壓試驗(yàn)更容易發(fā)現(xiàn)發(fā)電機(jī)定子繞組端部的(主)絕緣缺陷?
　　
　　因?yàn)榘l(fā)電機(jī)定子繞組端部導(dǎo)線與絕緣表面間存在分布電容，在交流耐壓試驗(yàn)時，繞組端部的電容電流沿絕緣表面流向定子鐵芯，如圖8—5所示。(插入第315頁圖)這樣，在絕緣表面沿電容電流的方向便產(chǎn)生了顯著的電壓降，因此，離鐵芯較遠(yuǎn)的端部導(dǎo)線與絕緣表面間的電位差便減小，因此，不能有效地發(fā)現(xiàn)離鐵芯較遠(yuǎn)的繞組端部絕緣缺陷。而在直流耐壓試驗(yàn)時，不存在電容電流，只有很小的泄漏電流通過端部的絕緣表面。因此，沿絕緣表面，也就沒有顯著的電壓降，使得端部主絕緣上的電壓分布比較均勻，因而在端部各段上所加的直流試驗(yàn)電壓都比較高，這樣就能比較容易發(fā)現(xiàn)端部絕緣的局部缺陷。
　　
　　對發(fā)電機(jī)定子繞組(主)絕緣進(jìn)行工頻交流耐壓試驗(yàn)的意義是什么?
　　
　　發(fā)電機(jī)的工頻交流耐壓試驗(yàn)的試驗(yàn)電壓與其工作電壓的波形、頻率一致。試驗(yàn)時，絕緣內(nèi)部的電壓分布與擊穿性能也與發(fā)電機(jī)運(yùn)行時相一致，因此，交流耐壓試驗(yàn)是一項(xiàng)更接近發(fā)電機(jī)實(shí)際運(yùn)行情況的絕緣試驗(yàn)，再加上試驗(yàn)電壓比運(yùn)行電壓高得多，故最能檢查出絕緣存在的局部缺陷。此項(xiàng)試驗(yàn)對發(fā)現(xiàn)定于繞組絕緣的集中性缺陷，最為靈敏有效。
　　
　　因此，交接試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定發(fā)電機(jī)安裝后的交接時和預(yù)防性試驗(yàn)規(guī)程中規(guī)定大修前、更換繞組后都要進(jìn)行定子繞組的交流耐壓試驗(yàn)。
　　
　　發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子繞組接地的危害是什么?接地類型有哪些?
　　
　　(1)接地的危害
　　
　　汽輪發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子繞組絕緣的故障，多表現(xiàn)為主絕緣的一點(diǎn)接地，當(dāng)轉(zhuǎn)子繞組僅有一點(diǎn)接地時，因?yàn)闆]有電流通過故障點(diǎn)，尚不影響發(fā)電機(jī)的正常運(yùn)行，若又發(fā)生另一點(diǎn)接地而形成兩點(diǎn)接地時，不僅故障電流可能會嚴(yán)重?zé)龎霓D(zhuǎn)子鐵芯或護(hù)環(huán)，而且由于一部分轉(zhuǎn)子繞組被短接而破壞了轉(zhuǎn)子磁場的對稱性，使得機(jī)組發(fā)生劇烈的振動和轉(zhuǎn)子鐵芯被磁化。這些都是不允許的，所以當(dāng)發(fā)現(xiàn)轉(zhuǎn)子繞組一點(diǎn)接地時，應(yīng)迅速采取措施，投入兩點(diǎn)接地保護(hù)或停機(jī)處理，以消除故障恢復(fù)正常運(yùn)行。
　　
　　(2)接地類型
　　
　　按轉(zhuǎn)子繞組接地的穩(wěn)定性，可分為穩(wěn)定性接地和不穩(wěn)性接地兩種。與轉(zhuǎn)速、溫度等因素?zé)o關(guān)的接地稱為穩(wěn)定性接地，反之為不穩(wěn)定性接地。按其接地電阻大小，可分低阻性接地(金屬性接地)和絕緣不良(非金屬性接地)兩種。一般過渡電阻穩(wěn)定在1000Ω以下的稱低阻性接地(金屬性接地)；而大于1000Ω小于0．5MΩ的叫做絕緣不良(非金屬性接地)。
　　
　　發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子繞組不接地情況有哪些?
　　
　　發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子繞組不穩(wěn)定接地有如下幾種情況。
　　
　　(1)高轉(zhuǎn)速時接地：轉(zhuǎn)子繞組絕緣電阻值，伴隨著轉(zhuǎn)速的升高而降低，當(dāng)達(dá)到一定轉(zhuǎn)速時，絕緣電阻值下降為零或接近于零。這類接地點(diǎn)多發(fā)生在靠近槽楔和護(hù)環(huán)的上層繞組線匝上。因?yàn)樵陔x心力的作用下，繞組被壓向槽楔底面和護(hù)環(huán)內(nèi)側(cè)，造成有絕緣缺陷的繞組接地。
　　
　　(2)低轉(zhuǎn)速時接地：轉(zhuǎn)子在靜止或低速運(yùn)轉(zhuǎn)時，轉(zhuǎn)子繞組的絕緣電阻值為零或接近于零，但當(dāng)轉(zhuǎn)速升高，絕緣電阻值也隨之增加；在一定高的轉(zhuǎn)速下，絕緣電阻值恢復(fù)正常。
　　
　　這類接地點(diǎn)多發(fā)生在槽部的下層繞組線匝上，因?yàn)樵陔x心力的作用下，繞組離開槽底向槽面壓縮會使接地點(diǎn)消失。
　　
　　(3)高溫時接地：轉(zhuǎn)子繞組的絕緣電阻值，伴隨著溫度的升高而降低，當(dāng)達(dá)到一定的溫度時，其絕緣電阻值為零或接近于零，這多是因?yàn)檗D(zhuǎn)于繞組隨溫度上升而膨脹所至，這類接地多發(fā)生在轉(zhuǎn)子兩側(cè)的端部。
　　
　　(4)與轉(zhuǎn)速和溫度都有關(guān)的接地：這是轉(zhuǎn)子繞組絕緣同時受轉(zhuǎn)速和溫度兩個因素作用而產(chǎn)生的接地故障。

　如何把轉(zhuǎn)子繞組較高的接地電阻通過燒穿試驗(yàn)變成較低的穩(wěn)定接地電阻?
　　
　　如需將轉(zhuǎn)子繞組較高的接地電阻通過燒穿試驗(yàn)變成較低的穩(wěn)定接地電阻，可按圖8—13所示試驗(yàn)接線進(jìn)行。圖中：電流表PA用作監(jiān)視燒穿接地點(diǎn)電流；燈泡HL用作限流和在燒穿時發(fā)亮信號；熔斷器FU用作保護(hù)，以免電流持續(xù)時間過長，燒壞轉(zhuǎn)子部件。

　　在試驗(yàn)的過程中，通人的電流應(yīng)盡量小些，如不能燒穿接地點(diǎn)時，再按3、5、8、10A幾個數(shù)值的電流逐漸增加，但一般不應(yīng)大于10A，每次持續(xù)時間為3—5min，到時要切斷電源，以防時間過長，造成轉(zhuǎn)子鐵芯、槽楔或護(hù)環(huán)的局部損傷。