(1)有效性的原因
　　
　　這一試驗(yàn)是在轉(zhuǎn)子繞組上施加工頻交流電壓，測(cè)量交流阻抗和功率損耗、若繞組中存在匝間短路，當(dāng)交流電壓作用時(shí)，在短路線匝中產(chǎn)生的短路電流，約是正常線匝電流的n倍(n為一個(gè)槽內(nèi)繞組總匝數(shù))，它有著強(qiáng)烈的去磁作用，從而導(dǎo)致繞組的交流阻抗大大下降，電流大大增大，因功率損耗與電流的平方成正比，所以功率損耗也顯落增大，通過(guò)測(cè)量轉(zhuǎn)子繞組的交流阻抗和功率損耗，與原始(或以前)數(shù)據(jù)比較，即可靈敏地判斷出轉(zhuǎn)子繞組是否存在匝間短路缺陷。
　　
　　(2)試驗(yàn)方法
　　
　　①試驗(yàn)接線：測(cè)量發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子繞組的交流阻抗和功率損耗試驗(yàn)接線如圖8—14所示。圖中儀表的量限應(yīng)按具體機(jī)組而定，準(zhǔn)確度不得低于0.5級(jí)。