国产精品麻豆久久99,韩日在线播放,午夜体验,鲁鲁狠色综合色综合网站,亚洲视频区,高清2019av手机版,精品中文字幕不卡在线视频

安全管理網

半導體單晶晶體質量的測試 X射線衍射法

標 準 號: GB/T 42676-2023
替代情況:
發(fā)布單位: 國家市場監(jiān)督管理總局 國家標準化管理委員會
起草單位: 哈爾濱科友半導體產業(yè)裝備與技術研究院有限公司、浙江海納半導體股份有限公司等
發(fā)布日期: 2023-08-06
實施日期: 2024-03-01
點 擊 數:
更新日期: 2023年09月07日
內容摘要

本文件描述了利用X射線衍射儀測試半導體材料雙晶搖擺曲線半高寬,進而評價半導體單晶晶體質量的方法。本文件適用于碳化硅、金剛石、氧化鎵等單晶材料晶體質量的測試,硅、砷化鎵、磷化銦等半導體材料晶體質量的測試也可參照本文件執(zhí)行。

如需幫助,請聯系我們。聯系電話400-6018-655。
網友評論 more
創(chuàng)想安科網站簡介會員服務廣告服務業(yè)務合作提交需求會員中心在線投稿版權聲明友情鏈接聯系我們