本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的測(cè)量方法適用于非本征半導(dǎo)體單晶材料的霍爾系數(shù)、載流子霍爾遷移率、電阻率和載流子濃度。 本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的測(cè)量方法僅在有限的范圍內(nèi)對(duì)鍺、硅、砷化鎵單晶材料進(jìn)行了實(shí)驗(yàn)室測(cè)量，但該方法也可適用于其他半導(dǎo)體單晶材料，一般情況下，適用于室溫電阻率高達(dá)104Ω·cm