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貴金屬電觸點(diǎn)材料接觸電阻的測量方法【作廢】

標(biāo) 準(zhǔn) 號: GB/T 15078-2008
發(fā)布單位: 中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局 中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會
起草單位: 貴研鉑業(yè)股份有限公司
發(fā)布日期: 2008-03-31
實(shí)施日期: 2008-09-01
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更新日期: 2020年05月06日
內(nèi)容摘要

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了貴金屬及其合金電觸點(diǎn)材料(靜態(tài))接觸電阻的測量方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于貴金屬及其合金電觸點(diǎn)材料接觸電阻的測量。其他金屬及合金電觸點(diǎn)材料也可參照使用。 本標(biāo)準(zhǔn)代替GB/T15078—1994《貴金屬電觸點(diǎn)材料接觸電阻的測量方法》。
本標(biāo)準(zhǔn)與原標(biāo)準(zhǔn)相比,主要變化如下:
———用于測量裝置的直流電源、電位器、可調(diào)電阻,采用直流恒流源替代,優(yōu)化了測量線路;
———試樣的表面清潔處理更合理、科學(xué)。

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