本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了應(yīng)用β射線背散射儀無(wú)損測(cè)量覆蓋厚度的方法。它適用于測(cè)量金屬和非金屬基體上的金屬和非金屬覆蓋層的厚度。使用本方法，覆蓋層和基體的原子序數(shù)或等效原子序數(shù)應(yīng)該相差一個(gè)適當(dāng)?shù)臄?shù)值。