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硅片字母數(shù)字標(biāo)志規(guī)范

標(biāo) 準(zhǔn) 號(hào): GB/T 34479-2017
替代情況:
發(fā)布單位: 中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局 中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
起草單位: 有研半導(dǎo)體材料有限公司
發(fā)布日期: 2017-10-14
實(shí)施日期: 2018-07-01
點(diǎn) 擊 數(shù):
更新日期: 2017年12月22日
內(nèi)容摘要

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了硅片或其他半導(dǎo)體晶片上字母數(shù)字標(biāo)志的編碼規(guī)范,包括標(biāo)志的形狀和尺寸、字母數(shù)字代碼的定義、要求和字母數(shù)字錯(cuò)碼檢驗(yàn)方法等。該標(biāo)志及關(guān)聯(lián)信息存入數(shù)據(jù)庫(kù),可被簡(jiǎn)單的自動(dòng)光學(xué)字符讀數(shù)(OCR)儀或人工進(jìn)行獨(dú)立、快速識(shí)別,確保晶片制造商對(duì)晶片標(biāo)記的一致性。
 本標(biāo)準(zhǔn)適用于在硅片及其他晶片正面或背面的編碼標(biāo)志。

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