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硅片字母數(shù)字標志規(guī)范

標 準 號: GB/T 34479-2017
替代情況:
發(fā)布單位: 中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
起草單位: 有研半導(dǎo)體材料有限公司
發(fā)布日期: 2017-10-14
實施日期: 2018-07-01
點 擊 數(shù):
更新日期: 2017年12月22日
內(nèi)容摘要

本標準規(guī)定了硅片或其他半導(dǎo)體晶片上字母數(shù)字標志的編碼規(guī)范,包括標志的形狀和尺寸、字母數(shù)字代碼的定義、要求和字母數(shù)字錯碼檢驗方法等。該標志及關(guān)聯(lián)信息存入數(shù)據(jù)庫,可被簡單的自動光學(xué)字符讀數(shù)(OCR)儀或人工進行獨立、快速識別,確保晶片制造商對晶片標記的一致性。
 本標準適用于在硅片及其他晶片正面或背面的編碼標志。

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