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本標準規(guī)定了規(guī)定了X射線熒光光譜法測定氫氧化鋁中SiO2、Fe2O3、Na2O含量的分析原理、儀器設備、分析步驟及分析重復性、精密性等。 本標準適用于氫氧化鋁中SiO2、Fe2O3、Na2O含量的測定。測定范圍:SiO2:0.005%~0.08%,F(xiàn)e2O3:0.004%~0.07%;Na2O:0.20%~0.80%。