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X射線熒光光譜法測定石灰石中CaO、MgO、SiO2含量

標(biāo) 準(zhǔn) 號: YS/T 703-2009
替代情況:
發(fā)布單位: 中華人民共和國工業(yè)和信息化部
起草單位: 中國鋁業(yè)股份有限公司廣西分公司
發(fā)布日期: 2009-12-04
實施日期: 2010-06-01
點 擊 數(shù):
更新日期: 2017年03月03日
內(nèi)容摘要

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了X射線熒光光譜法測定石灰石中CaO、MgO、SiO2含量的分析原理、儀器設(shè)備、分析步驟及分析重復(fù)性、精密性等。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于石灰石中CaO、MgO、SiO2含量的測定。測定范圍:CaO:42.54%~55.48%;MgO:0.31%~10.62%;SiO2:0.19%~7.80%。

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