工業(yè)硅化學(xué)分析方法 第5部分：雜質(zhì)元素含量的測定 X射線熒光光譜法
標(biāo) 準(zhǔn) 號(hào)： GB/T 14849.5-2014
發(fā)布單位： 中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局、中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
起草單位： 昆明冶金研究院、中國鋁業(yè)股份有限公司山東分公司、云南永昌硅業(yè)股份有限公司
發(fā)布日期： 2014-12-05
實(shí)施日期： 2015-05-01
