本文件描述了光學(xué)和光子學(xué)低溫、高溫或溫度變化與碰撞或隨機(jī)振動(dòng)綜合試驗(yàn)的環(huán)境試驗(yàn)方法。
本文件適用于光學(xué)和光子學(xué)儀器以及來(lái)自其他領(lǐng)域的組件（如機(jī)械、化學(xué)和電子設(shè)備)的低溫、高溫或溫度變化與碰撞或隨機(jī)振動(dòng)綜合試驗(yàn)。