本文件描述了低壓與低溫、大氣溫度、高溫或濕熱綜合試驗的環(huán)境試驗方法。
本文件適用于光學(xué)和光子學(xué)儀器以及來自其他領(lǐng)域附屬組件（如機械、化學(xué)和電子設(shè)備）的低壓與低溫、大氣溫度、高溫或濕熱綜合試驗。