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微束分析 電子探針顯微分析 塊狀試樣波譜法定量點(diǎn)分析

標(biāo) 準(zhǔn) 號: GB/T 28634-2012
替代情況:
發(fā)布單位: 中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局、中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會
起草單位: 中國科學(xué)院上海硅酸鹽研究所
發(fā)布日期: 2012-07-31
實(shí)施日期: 2013-02-01
點(diǎn) 擊 數(shù):
更新日期: 2017年02月04日
內(nèi)容摘要

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了應(yīng)用電子探針或者掃描電鏡(SEM)的波譜儀(WDS),通過電子束與試樣相互作用產(chǎn)生的X射線對試樣微米尺度體積內(nèi)的元素進(jìn)行定量分析的要求。
內(nèi)容包括:
———定量分析原理;
———本方法涉及的元素、質(zhì)量分?jǐn)?shù)和標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)的一般范圍;
———儀器的一般要求;
———有關(guān)試樣制備、實(shí)驗(yàn)條件的選擇、分析測量等的基本過程及報告。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于電子束垂直入射,要求定量分析的塊狀試樣表面平滑、均勻。對儀器和數(shù)據(jù)處理軟件沒有特殊的要求。使用者應(yīng)該從儀器制造廠家獲得儀器安裝條件、詳細(xì)的操作程序及儀器說明書。

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