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半導體器件 機械和氣候試驗方法 第4部分：強加速穩(wěn)態(tài)濕熱試驗（HAST）

標 準 號： GB/T 4937.4-2012
替代情況：
發(fā)布單位： 中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
起草單位： 中國電子科技集團公司第十三研究所
發(fā)布日期： 2012-11-05
實施日期： 2013-02-15
點 擊 數(shù)：
更新日期： 2025年02月14日
內(nèi)容摘要

GB/T4937的本部分規(guī)定了強加速穩(wěn)態(tài)濕熱試驗(HAST)方法,用于評價非氣密封裝半導體器件在潮濕的環(huán)境下的可靠性。

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