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固態(tài)盤能耗測(cè)試方法

標(biāo) 準(zhǔn) 號(hào): SJ/T 11790-2021
替代情況:
發(fā)布單位: 中華人民共和國(guó)工業(yè)和信息化部
起草單位: 中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院 等
發(fā)布日期: 2021-08-21
實(shí)施日期: 2021-11-01
點(diǎn) 擊 數(shù):
更新日期: 2023年04月30日
內(nèi)容摘要

本文件中規(guī)定了固態(tài)盤能耗測(cè)試的術(shù)語和定義、技術(shù)要求、測(cè)試條件、測(cè)試方法等。
本文件適用于以快閃存儲(chǔ)器(FLASH)或非易失存儲(chǔ)器(NVM)為存儲(chǔ)介質(zhì)的固態(tài)盤的能耗測(cè)試。

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