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半導(dǎo)體芯片產(chǎn)品 第5部分:電學(xué)仿真要求

標(biāo) 準(zhǔn) 號: GB/T 35010.5-2018
替代情況:
發(fā)布單位: 中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局 國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會
起草單位: 北京大學(xué)、中國電子科技集團(tuán)公司第十三研究所、北京必創(chuàng)科技股份有限公司、哈爾濱工業(yè)大學(xué)
發(fā)布日期: 2018-03-15
實施日期: 2018-08-01
點 擊 數(shù):
更新日期: 2018年05月12日
內(nèi)容摘要

本部分用于指導(dǎo)半導(dǎo)體芯片產(chǎn)品的生產(chǎn)、供應(yīng)和使用。
本部分規(guī)定了所需的電仿真信息,目的在于促進(jìn)電子數(shù)據(jù)、電子系統(tǒng)電學(xué)行為和功能驗證仿真模型的使用。電子系統(tǒng)包括帶或不帶互連結(jié)構(gòu)的半導(dǎo)體裸芯片,和(或)最小封裝的半導(dǎo)體芯片。本部分是為了使芯片產(chǎn)品供應(yīng)鏈中所有的環(huán)節(jié)都滿足IEC 62258-1 和IEC 62258-2 的要求。

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