本文件描述了一種用于優(yōu)化一般分析目的的飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜（SIMS）儀器的質(zhì)量校準(zhǔn)準(zhǔn)確度的方法。本文件僅適用于飛行時(shí)間儀器，但并不限于任何特定的儀器設(shè)計(jì)。本文件提供了對(duì)一些儀器參數(shù)優(yōu)化的指導(dǎo)，這些參數(shù)能使用此程序進(jìn)行優(yōu)化，還提供了適用于校準(zhǔn)質(zhì)量標(biāo)以獲得最佳質(zhì)量準(zhǔn)確度的一般峰的類型。