本標(biāo)準(zhǔn)以最少量的資料描述了用X射線光電子能譜測(cè)量絕緣樣品內(nèi)能級(jí)結(jié)合能,及將在報(bào)告其分析結(jié)果時(shí)所采用的荷電控制和荷電校正方法,也給出了在結(jié)合能測(cè)量過程中對(duì)于荷電控制和荷電校正有用的方法資料。