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集成電路 CMOS圖像傳感器測(cè)試方法

標(biāo) 準(zhǔn) 號(hào)： GB/T 43063-2023
替代情況：
發(fā)布單位： 國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局 國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
起草單位： 中國(guó)科學(xué)院長(zhǎng)春光學(xué)精密機(jī)械與物理研究所、重慶光電技術(shù)研究所、天津大學(xué) 等
發(fā)布日期： 2023-09-07
實(shí)施日期： 2024-01-01
點(diǎn) 擊 數(shù)：
更新日期： 2023年10月16日
//技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)
內(nèi)容摘要

本文件描述了具有線性光電響應(yīng)特性的線陣、面陣和時(shí)間延遲積分（TDI)CMOS圖像傳感器參數(shù)及其測(cè)試方法。
本文件適用于具有線性光電響應(yīng)特性的線陣、面陣和TDI器件參數(shù)測(cè)試。

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