本標準是對ＧＢ／Ｔ１７４７３—１９９８《厚膜微電子技術用貴金屬漿料測試方法》（所有部分）的整合修訂，分為７個部分,本部分為ＧＢ／Ｔ１７４７３—２００８的第５部分。 本標準規(guī)定了微電子技術用貴金屬漿料中 粘度的測定方法。 本部分代替ＧＢ／Ｔ１７４７３．５—１９９８《厚膜微電子技術用貴金屬漿料測試方法　粘度測定》。
本部分與ＧＢ／Ｔ１７４７３．５—１９９８相比，主要有如下變化：
———將原標準名稱修改為：微電子技術用貴金屬漿料測試方法　粘度測定；
———將原標準中范圍去除“非貴金屬電子漿料粘度測定也可參照本標準執(zhí)行”