3．2．1電抗器運(yùn)行時的溫升限值

　　在一定溫度下，絕緣材料不產(chǎn)生熱損壞的時間稱為絕緣材料的使用壽命。大型電抗器的電流在3500A以上。這樣大的電流流過電抗器，即使電抗器的電阻很小(mΩ級)，功率也在千瓦以上。電器產(chǎn)品的損耗越大，運(yùn)行中產(chǎn)生的熱量就越大，在一定的條件下，電抗器的溫升也就越高，而溫升增高會加速絕緣材料的老化，使其失去絕緣性能，從而也會縮短電抗器的使用壽命。這說明電抗器溫升的高低是保證其質(zhì)量和使用壽命的重要指標(biāo)，因此GBl0229-1988和IEC標(biāo)準(zhǔn)中均對電抗器正常使用條件下的溫升做了專門的規(guī)定。

　　國標(biāo)之所以對電抗器的溫升做嚴(yán)格的限制，是因?yàn)闇厣苯佑绊懼娍蛊魉媒^緣材料的使用壽命。根據(jù)Montsinger的壽命定律，絕緣材料的熱老化與溫度有如下關(guān)系：t=Aexp(aθ)。式中：t為絕緣材料的使用壽命；A為常數(shù)，B級材料約為6．5x105；a為常數(shù)，約為0.088；9為絕緣材料的溫度。

　　由上式看出，對于B級絕緣材料，每當(dāng)溫度增加10℃，絕緣材料的使用壽命減少一半，這就是絕緣材料的10℃定則。A級絕緣材料為8℃，稱為8℃定則。溫升是保證電抗器質(zhì)量和運(yùn)行壽命的重要指標(biāo)，電流越大就越難滿足要求。

　　形成溫升的主要原因有：溫升的設(shè)計(jì)裕度取得很小，使設(shè)計(jì)值與國標(biāo)規(guī)定的溫升限值很接近；還有制造的原因，如繞制繞組時，線軸的配重不夠、繞制速度過快和停機(jī)均可造成繞組松緊度不好和繞組電阻的變化。另外，接線端子與繞組焊接處的焊接電阻是由于焊接質(zhì)量的問題產(chǎn)生的附加電阻，該焊接電阻產(chǎn)生附加損耗使接線端子處溫升過高。另外，在焊接時由于接頭設(shè)計(jì)不當(dāng)、焊縫深寬比太大，焊道太小，熱脆性等原因產(chǎn)生的焊縫金屬裂紋都將降低焊接質(zhì)量，增大焊接電阻。

　　3．2．2處理措施

　　處理措施：①選擇合理的耐熱等級絕緣材料、設(shè)計(jì)運(yùn)行溫度更合理的干式電抗器，從根本上解決電抗器戶外運(yùn)行安全性較低的問題，以增加其使用壽命。②開展有效的防紫外線老化包封的防護(hù)漆的選型和研制，從根本上杜絕樹枝狀放電的出現(xiàn)。③改善電抗器上部引線與線圈的密封，2)。④戴帽防止日曬或雨淋，或是搭大棚，以改善通風(fēng)條件，改善電抗器運(yùn)行的環(huán)境溫度。⑤改善工藝條件，提高工藝水平，改善工藝環(huán)境，減少人為因素的影響。

　　干式空心并聯(lián)電抗器組特點(diǎn)之一是由多個并聯(lián)的包封組成，但由于設(shè)計(jì)和制造工藝上的問題，會造成各包封電流密度不一致，導(dǎo)致運(yùn)行中部分包封溫度高。現(xiàn)在某些廠家為了提高經(jīng)濟(jì)效益，過分地提高電流密度，造成熱點(diǎn)溫升過大是電抗器故障的根本原因。因此，適當(dāng)降低電流密度，提高絕緣耐熱等級是改善電抗器運(yùn)行特性的根本措施。

　　3．3漏磁

　　3．3．1漏磁產(chǎn)生的原因及危害

　　在電抗器軸向位置有接地網(wǎng)，徑向位置有設(shè)備，遮欄、構(gòu)架等，都可能因金屬體構(gòu)成閉環(huán)造成較嚴(yán)重的漏磁問題，對周圍環(huán)境造成嚴(yán)重的影響。若在磁場范圍只有較大鐵磁物質(zhì)，無閉環(huán)回路問題不大，若有閉環(huán)回路，如地網(wǎng)、構(gòu)架、金屬遮欄等，其漏磁將感應(yīng)環(huán)流達(dá)數(shù)百安培。這不僅增大損耗，更因其建立的反向磁場同電抗器的部分繞組耦合而產(chǎn)生嚴(yán)重問題，如是徑向位置有閉環(huán)，將使電抗器繞組過熱或局部過熱，如同變壓器二次側(cè)短路情況，如是軸向位置有在閉環(huán)，將使電抗器電流增大和電位分布改變，故漏磁問題并不能簡單地認(rèn)為只是發(fā)熱或增加損耗。

　　3．3．2處理措施

　　只要消除閉合的金屬環(huán)路，如遠(yuǎn)離金屬構(gòu)架不使用金屬圍欄等，一般就可解決。較困難的是避免接地網(wǎng)及水泥構(gòu)件中的閉環(huán)回路，應(yīng)在安裝之前，核查安裝點(diǎn)是否存在閉環(huán)的接地網(wǎng)或含金眉閉環(huán)的水泥構(gòu)件，合理地布置電抗器的安裝位置及接線端子位置。