本文件規(guī)定了用層狀材料截面像所記錄的兩種不同材料之間平均界面位置的測定方法。
本文件適用于透射電子顯微鏡（TEM）或掃描透射電子顯微鏡（STEM）所記錄的層狀材料截面像和X射線能譜儀（EDS）或者電子能量損失譜儀（EELS）所記錄的截面元素面分布圖。也適用于由數(shù)碼相機、電腦存儲器和成像板圖像傳感器所采集的數(shù)字像以及膠片記錄的模擬像經(jīng)掃描儀轉(zhuǎn)換的數(shù)字像。
本文件不適用于測定多層模擬法（MSS）獲得的界面位置。