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微束分析 分析電子顯微術(shù) 層狀材料截面像中界面位置的確定方法

標(biāo) 準(zhǔn) 號(hào): GB/T 43087-2023
替代情況:
發(fā)布單位: 國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局 國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
起草單位: 北京科技大學(xué)
發(fā)布日期: 2023-09-07
實(shí)施日期: 2024-04-01
點(diǎn) 擊 數(shù):
更新日期: 2024年01月18日
內(nèi)容摘要

本文件規(guī)定了用層狀材料截面像所記錄的兩種不同材料之間平均界面位置的測(cè)定方法。
本文件適用于透射電子顯微鏡(TEM)或掃描透射電子顯微鏡(STEM)所記錄的層狀材料截面像和X射線能譜儀(EDS)或者電子能量損失譜儀(EELS)所記錄的截面元素面分布圖。也適用于由數(shù)碼相機(jī)、電腦存儲(chǔ)器和成像板圖像傳感器所采集的數(shù)字像以及膠片記錄的模擬像經(jīng)掃描儀轉(zhuǎn)換的數(shù)字像。
本文件不適用于測(cè)定多層模擬法(MSS)獲得的界面位置。

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