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本文件描述了采用顯微散射暗場成像法對光學(xué)元件表面疵病進(jìn)行定量檢測的檢測原理、試驗條件、 儀器設(shè)備、樣品、檢測步驟和試驗數(shù)據(jù)處理和檢測報告。 本文件適用于平板類雙面拋光光學(xué)元件表面疵病的長度、寬度、擋光面積以及疵病位置檢測。