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本文件描述了光學和光子學污染試驗的環(huán)境試驗方法。 注: 本文件中所指的“污染”的含義是腐蝕性化學物質(zhì)1)(以下簡稱“試劑”)同光學和光子學儀器的接觸。 本文件適用于有關(guān)光學和光子學儀器,包括來自其他領域(如機械、化學和電子設備)的污染試驗。 本文件不適用于作為正常的生產(chǎn)控制。