本文件描述了光學(xué)和光子學(xué)污染、太陽(yáng)輻射綜合試驗(yàn)的環(huán)境試驗(yàn)方法。
本文件適用于光學(xué)和光子學(xué)儀器以及來(lái)自其他領(lǐng)域的組件（如機(jī)械、化學(xué)和電子設(shè)備）的污染、太陽(yáng)輻射綜合試驗(yàn)。