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射頻連接器 第201部分:電氣試驗(yàn)方法 反射系數(shù)和電壓駐波比

標(biāo) 準(zhǔn) 號(hào): GB/T 11313.201-2018
替代情況:
發(fā)布單位: 國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局 國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
起草單位: 中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院、中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第四十研究所、通鼎互聯(lián)信息股份有限公司
發(fā)布日期: 2018-09-17
實(shí)施日期: 2019-01-01
點(diǎn) 擊 數(shù):
更新日期: 2019年07月06日
內(nèi)容摘要

本部分規(guī)定了射頻連接器的反射系數(shù)、電壓駐波比和回波損耗的測(cè)試方法,包括頻域法、時(shí)域法、門(mén)控時(shí)域法。
本部分適用于接電纜的射頻連接器、接微帶射頻連接器和射頻連接器轉(zhuǎn)接器等的測(cè)試,也適用于多通道射頻連接器和混裝連接器中的各射頻通道的測(cè)試。

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