本標準給出并解釋了故障掩蔽在與一個執(zhí)行診斷的邏輯單元連接的多個串聯(lián)無電勢觸點聯(lián)鎖裝置的原理。本標準還進一步給出了如何估計故障掩蔽的概率以及所涉及聯(lián)鎖裝置最大DC值的指南。本標準只適用于兩個通道均為物理串聯(lián)的聯(lián)鎖裝置。
本標準有以下兩個用途：
--給使用者提供估計最大DC值的指南；
--作為SRP/CS設計指南。