GB/T17554規(guī)定了符合GB/T14916識(shí)別卡特性的測(cè)試方法。每一測(cè)試方法交叉引用一個(gè)或多個(gè)基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn),這些基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)可以是GB/T14916或一個(gè)或多個(gè)定義了用于識(shí)別卡應(yīng)用的信息存儲(chǔ)技術(shù)的補(bǔ)充標(biāo)準(zhǔn)。
GB/T17554的本部分規(guī)定了無觸點(diǎn)集成電路卡技術(shù)(鄰近式卡)的測(cè)試方法。第1部分規(guī)定了為一種或多種卡技術(shù)所共用的測(cè)試方法;其他部分則規(guī)定了各個(gè)專項(xiàng)技術(shù)的測(cè)試方法。
除非另有規(guī)定,本部分中的測(cè)試僅適用于GB/T22351.1和GB/T22351.2中定義的鄰近式卡。