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電子陶瓷用二氧化鈦中雜質(zhì)的發(fā)射光譜分析方法

標(biāo) 準(zhǔn) 號(hào): SJ/T 10552-2021
替代情況: 替代 SJ/T 10552-1994
發(fā)布單位: 中華人民共和國(guó)工業(yè)和信息化部
起草單位: 中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院
發(fā)布日期: 2021-03-05
實(shí)施日期: 2021-06-01
點(diǎn) 擊 數(shù):
更新日期: 2023年12月08日
內(nèi)容摘要

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電子陶瓷用二氧化鈦中雜質(zhì)的發(fā)射光譜分析方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于電子陶瓷用二氧化鈦中鐵、硅、磷、鈣、鎂、鋁和銻的氧化物雜質(zhì)的測(cè)定。

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