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半導(dǎo)體集成電路 電壓比較器測(cè)試方法

標(biāo) 準(zhǔn) 號(hào)： SJ/T 10805-2018
替代情況： 替代 SJ/T 10805-2000
發(fā)布單位： 中華人民共和國(guó)工業(yè)和信息化部
起草單位： 中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院 等
發(fā)布日期： 2018-02-09
實(shí)施日期： 2018-04-01
點(diǎn) 擊 數(shù)：
更新日期： 2023年12月08日
內(nèi)容摘要

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了半導(dǎo)體集成電路電壓比較器電特性測(cè)試方法。

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