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本文件規(guī)定了半導(dǎo)體集成電路驅(qū)動器(以下簡稱器件)的電特性測試方法的基本原理和測試程序。 本文件適用于74/54系列驅(qū)動器、總線驅(qū)動器、PIN開關(guān)驅(qū)動器、達林頓驅(qū)動器、時鐘驅(qū)動器、LVDS驅(qū)動器、MOSFET驅(qū)動器和差分驅(qū)動器等各種半導(dǎo)體工藝制造的驅(qū)動器的電性能測試。 其他類別驅(qū)動器的測試參考使用。