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本標準規(guī)定了測量封裝引線電阻的方法。本標準適用于針柵陣列封裝(PGA)引線電阻的測試。該測試技術也適用于其他微電子封裝如無引線片式載體(LCC)、四邊引線扁平封裝(QEP)和陶瓷雙列封裝(CDIP)等引線電阻的測試。