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電力半導體器件測試設(shè)備 型號命名方法

標 準 號: JB/T 4219-1999
替代情況: 替代 JB 4219-1986
發(fā)布單位: 國家機械工業(yè)局
起草單位: 西安電力電子技術(shù)研究所
發(fā)布日期: 1999-08-06
實施日期: 2000-01-01
點 擊 數(shù):
更新日期: 2022年07月03日
內(nèi)容摘要

本標準規(guī)定了電力半導體器件測試設(shè)備型號的組成、各部分的意義和表示方法。
本標準適用于電力半導體器件電、熱參數(shù)的測試設(shè)備(測試臺、測試儀)和有關(guān)非標準卡、夾設(shè)備的型號命名。

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