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半導(dǎo)體器件 分立器件 第4-1部分:微波二極管和晶體管 微波場效應(yīng)晶體管空白詳細(xì)規(guī)范

標(biāo) 準(zhǔn) 號(hào): GB/T 21039.1-2007
替代情況:
發(fā)布單位: 中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局 中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
起草單位: 中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所
發(fā)布日期: 2007-06-29
實(shí)施日期: 2007-11-01
點(diǎn) 擊 數(shù):
更新日期: 2021年09月13日
內(nèi)容摘要

本部分等同采用IEC 60747-4-1:2000《半導(dǎo)體器件 分立器件 第4-1部分:微波二極管和晶體管 微波場效應(yīng)晶體管空白詳細(xì)規(guī)范》。本空白詳細(xì)規(guī)范是半導(dǎo)體器件的一系列空白詳細(xì)規(guī)范之一,具體內(nèi)容包括:機(jī)械說明;簡要說明;質(zhì)量評定類別;極限值;電特性;標(biāo)志;訂貨資料;試驗(yàn)條件和簡要要求等。

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