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本部分規(guī)定了在電信設(shè)備內(nèi)部通過(guò)TEM小室和寬帶TEM小室方法進(jìn)行輻射發(fā)射測(cè)量的方法。本部分適用于工作頻率范圍在150kHz~1GHz的電信設(shè)備內(nèi)部的集成電路。