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電信設(shè)備內(nèi)部電磁發(fā)射診斷技術(shù)要求和測量方法(150kHz~1GHz)第6部分:傳導(dǎo)發(fā)射測量 磁場探頭方法

標(biāo) 準(zhǔn) 號: YD/T 1690.6-2007
替代情況:
發(fā)布單位: 信息產(chǎn)業(yè)部
起草單位: 信息產(chǎn)業(yè)部電信研究院
發(fā)布日期: 2007-09-29
實(shí)施日期: 2008-01-01
點(diǎn) 擊 數(shù):
更新日期: 2021年04月14日
內(nèi)容摘要

本部分規(guī)定了用微型磁場探頭以非接觸的電流測量方式來測量集成電路(IC)的管腳的射頻電流的方法。本方法可以在150kHz~1GHz頻率范圍內(nèi)測量由IC產(chǎn)生的射頻電流。本部分適用于單個IC的測量或者用于標(biāo)準(zhǔn)測試板上的IC芯片組的描述和比較。

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