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本部分規(guī)定了用微型磁場探頭以非接觸的電流測量方式來測量集成電路(IC)的管腳的射頻電流的方法。本方法可以在150kHz~1GHz頻率范圍內(nèi)測量由IC產(chǎn)生的射頻電流。本部分適用于單個IC的測量或者用于標(biāo)準(zhǔn)測試板上的IC芯片組的描述和比較。