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半絕緣半導體晶片電阻率的無接觸測量方法

標 準 號： SJ/T 11487-2015
替代情況：
發(fā)布單位： 中華人民共和國工業(yè)和信息化部
起草單位： 工業(yè)和信息化部電子工業(yè)標準化研究院
發(fā)布日期： 2015-04-30
實施日期： 2015-10-01
點 擊 數：
更新日期： 2021年04月09日
內容摘要

本標準規(guī)定了半絕緣半導體晶片電阻率的非接觸式測量方法。

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