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集成電路用 電子漿料性能試驗(yàn)方法

標(biāo) 準(zhǔn) 號(hào)： SJ/T 11512-2015
替代情況：
發(fā)布單位： 中華人民共和國(guó)工業(yè)和信息化部
起草單位： 工業(yè)和信息化部電子工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化研究院
發(fā)布日期： 2015-04-30
實(shí)施日期： 2015-10-01
點(diǎn) 擊 數(shù)：
更新日期： 2021年04月09日
內(nèi)容摘要

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了集成電路用電子漿料性能試驗(yàn)方法。
本標(biāo)準(zhǔn)適應(yīng)于集成電路用導(dǎo)體漿料、電阻漿料、介質(zhì)漿料等電子漿料。

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