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發(fā)光二極管外延片測試方法

標(biāo) 準(zhǔn) 號: SJ/T 11471-2014
替代情況:
發(fā)布單位: 中華人民共和國工業(yè)和信息化部
起草單位: 中國信息通信研究院等
發(fā)布日期: 2014-10-14
實施日期: 2015-04-01
點 擊 數(shù):
更新日期: 2021年04月05日
內(nèi)容摘要

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了可見光發(fā)光二極管外延片的幾何參數(shù)、表面缺陷、結(jié)構(gòu)參數(shù)及光電參數(shù)的測試方法。 ?
本標(biāo)準(zhǔn)適用于鎵砷磷系、鎵鋁砷系、鋁鎵銦磷系及鋁鎵銦氮系外延片。

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