本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了被試?yán)w維光學(xué)器件回波損耗測量程序。通過采用低光學(xué)相干干涉方法以微米級的空間分辨率和高動態(tài)范圍測量單模光器件的反射分布。通過采用光頻域反射方法，以厘米級的空間分辨率和高動態(tài)范圍測量單模光器件的回波損耗。