本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了使用 X 射線(xiàn)輻射儀（光子平均能量約 10keV，最大光子能量不超過(guò)100keV）對(duì)半導(dǎo)體器件和電路進(jìn)行電離輻射效應(yīng)試驗(yàn)的方法和程序。適用于半導(dǎo)體器件的總劑量電離輻照評(píng)估試驗(yàn)。