半導(dǎo)體集成電路 第三代雙倍數(shù)據(jù)速率同步動(dòng)態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器 (ddr3 sdram)測(cè)試方法
標(biāo) 準(zhǔn) 號(hào): GB/T 36474-2018
發(fā)布單位: 中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
起草單位: 中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院
發(fā)布日期: 2018-06-07
實(shí)施日期: 2019-01-01