本標準規(guī)定了雙極、MOS、結(jié)型場效應(yīng)半導(dǎo)體集成電路模擬開關(guān)（以下稱為器件）參數(shù)測試方法。
本標準適用于半導(dǎo)體集成電路模擬開關(guān)，也適用于多路轉(zhuǎn)換器參數(shù)的測試。